EVK-VERA-P174-00A是一款專為驗證和測試特定系列芯片而設計的評估套件。該評估板主要用于幫助工程師快速上手并測試目標芯片的功能特性,包括但不限于輸入輸出性能、功耗管理以及信號完整性等關鍵指標。它通常包含完整的硬件電路設�、接口連接器以及調試工具支�,適用于產品開發(fā)階段的原型設計與功能驗證�
此評估板適配特定型號的主控芯片或模塊,具體型號需結合實際使用場景查閱相關文檔�
工作電壓�3.3V~5V
接口類型:USB Type-C, UART, JTAG
支持芯片系列:VERA系列主控芯片
尺寸�100mm x 70mm
工作溫度范圍�-20°C ~ +85°C
EVK-VERA-P174-00A評估板的主要特性包括高度集成的外圍電路設計,能夠顯著簡化目標芯片的測試流程。其板載豐富的接口資�,如UART串口、JTAG調試接口及USB通信端口,便于與PC或其他設備進行數據交互�
此外,該評估板還提供了靈活的電源管理方案,支持多種輸入電壓,并內置穩(wěn)壓電路以確保�(wěn)定運�。用戶可通過配套軟件實現(xiàn)對芯片寄存器的配�、固件燒錄以及實時監(jiān)控等功能�
在信號完整性方�,評估板采用多層PCB設計,優(yōu)化了高速信號走線布局,有效降低了電磁干擾(EMI)的影響。同�,它還預留了擴展區(qū)域,方便用戶根據需求添加額外的外設或傳感器模塊�
EVK-VERA-P174-00A廣泛應用于嵌入式系統(tǒng)開發(fā)、物�(lián)網(IoT)設備測試以及工�(yè)自動化控制領�。對于需要高性能處理能力的應用場�,例如智能網�、邊緣計算節(jié)點或機器人控制系�(tǒng),這款評估板可作為理想的開�(fā)平臺�
此外,在教育和科研領域,它也常被用作教學演示工具,幫助學生或研究人員深入了解�(xiàn)代微控制器架構及其應用技��
EVK-VERA-P175-00A