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XRF
閱讀�20869時間�2011-06-21 10:58:23

  XRF,X射線熒光光譜分析�(X Ray Fluorescence),利用初級X射線光子或其他微觀離子激�(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒�(次級X射線)而進行物質(zhì)成分分析和化�(xué)�(tài)研究的方法。按激�(fā)、色散和探測方法的不�,分為X射線光譜�(波長色散)和X射線能譜�(能量色散)�  

基本原理

  照射原子核的X射線能量與原子核的內(nèi)層電子的能量在同一�(shù)量級�,核的內(nèi)層電子共振吸收射線的輻射能量后發(fā)生躍�,而在�(nèi)層電子軌道上留下一個空�,處于高能態(tài)的外層電子跳回低能態(tài)的空穴,將過剩的能量以X射線的形式放�,所�(chǎn)生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子�(nèi)殼層電子的能級差,即原子特定的電子層間躍遷能�。X射線熒光分析法是根據(jù)特征譜線的波長或光量子能量來鑒別元素��

�(yīng)�

  XRF具有制樣簡單、精密度高、準確度�、自動化程度高,能同時對多元素快速分析等�(yōu)�,已成為化學(xué)元素分析的常用工具之一�X射線熒光光譜分析法用于物�(zhì)成分分析,檢出限一般可�10-5�10-6克/�(g/g),對許多元素可測�10-7�10-9g/g,用�(zhì)子激�(fā)� ,檢出可�10-12g/g;強度測量的再現(xiàn)性好;便于進行無損分析;分析速度�;應(yīng)用范圍廣,分析范圍包括原子序�(shù)Z�3的所有元�。除用于物質(zhì)成分分析�,還可用于原子的基本性質(zhì)如氧化數(shù)、離子電�、電負性和化學(xué)鍵等的研究�XRF技�(shù)已經(jīng)廣泛�(yīng)用于地質(zhì)、冶金、采�、有色、海�、生�、環(huán)�、石�、商檀電�、公安、考古、難融化物和陶瓷工業(yè)、RoHs� WEEE分析等領(lǐng)��

XFR的發(fā)�

  20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應(yīng)用此法從事定量分�,但由于�(dāng)時記錄和探測儀器水平的限制,無法實�(xiàn)�40年代�,隨著核物理探測器的改�,各種計數(shù)器相繼應(yīng)用在X射線的探測上,此法的實際�(yīng)用才成為�(xiàn)��1948年H.弗里德曼� L.S.伯克斯制成了一臺波長色散的X射線熒光分析儀,此法才開始�(fā)展起�。此�,隨著X射線熒光分析理論和方法的逐漸開拓和完善、儀器的自動化和計算機水平的迅速提��60年代本法在常�(guī)分析上的重要性已充分顯示出來�70年代以后,又按激�(fā)、色散和探測方法的不同,�(fā)展成為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)兩大分�,兩者的�(yīng)用現(xiàn)已遍及各�(chǎn)�(yè)和科研部門�

維庫電子通,電子知識,一查百��

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