X射線測厚儀原理是根�(jù)X射線穿透被測物�(shí)的強(qiáng)度衰減來�(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線�,根�(jù)該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號(hào)�(zhuǎn)換為電信�(hào),經(jīng)過前�放大�放大,再由專用測厚儀操作系統(tǒng)�(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信�(hào)�
�(duì)于X射線,在其穿透被測材料后,射線強(qiáng)度I的衰減規(guī)律為
式中 I0———入射射線強(qiáng)度;
μ———吸收系�(shù)�
h———被測材料的厚度�
�(dāng)μ和I0一定時(shí),I僅僅是板厚h的函�(shù),所以測出I就可以知道厚度h�
X射線測厚儀原理是根�(jù)X射線穿透被測物�(shí)的強(qiáng)度衰減來�(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線�,根�(jù)該X射線的能量�,確定被測件的厚�。由X射線探測頭將接收到的信號(hào)�(zhuǎn)換為電信�(hào),經(jīng)過前置放大器放大,再由專用測厚儀操作系統(tǒng)�(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信�(hào)�
X射線源輻射強(qiáng)度的大小,與X射線管的�(fā)射強(qiáng)度和被測鋼板所吸收的X射線�(qiáng)度相�(guān)。一�(gè)在系�(tǒng)量程范圍�(nèi)的給定厚�,為了確定其所需的X射線能量值,可利用M215型X射線檢測儀�(jìn)行校�(zhǔn)。在檢測任一特殊厚度�(shí),系�(tǒng)將設(shè)定X射線的能量�,使檢測能夠順利完成�
在厚度一定的情況�,X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開,X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過,被測鋼板將一部分能量吸收,剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接�,探頭將所接收的X射線�(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電�。如果改變被測鋼板的厚度,則所吸收的X射線量也將改�,這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變�,檢測信�(hào)也隨之發(fā)生相�(yīng)的變��
1、上照式
2、測試組件可升降
3、高精度移動(dòng)平臺(tái)
4、小�(zhǔn)直器
5、高分辨率探�
6、可視化操作
7、自�(dòng)定位高度
8、自�(dòng)尋找光斑
9、鼠�(biāo)定位測試�(diǎn)
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔�(shè)�(jì)
12、測試口安全防護(hù)
X射線測厚儀技�(shù)指標(biāo)
型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U��
一次可同時(shí)分析�24�(gè)元素或五層以上鍍層�
元素分析檢出限可�(dá)2ppm,分析含量一般為2ppm�99.9%�
鍍層厚度薄可�(dá)0.005um,一般在20um�(nèi)(不同材料有所不同)�
小孔�(zhǔn)直器(小直徑0.1mm�,測試光斑在0.2mm以內(nèi)�
高精度移�(dòng)平臺(tái)(定位精度小�0.005mm��
任意多�(gè)可選擇的分析和識(shí)別模��
相互�(dú)立的基體效應(yīng)校正模型�
多次測量重復(fù)性可�(dá)0.05um(對(duì)少于1um的外層Au)�
長期工作�(wěn)定性為0.1um(對(duì)少于1um的外層Au��
溫度適應(yīng)范圍�15℃至30��
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化�(wěn)壓電��
儀器尺寸:576 x 495x545 mm
重量�90 kg
X射線測厚儀�(biāo)�(zhǔn)配置
開放式樣品腔�
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)�(xiàn)三維移動(dòng)�
雙激光定位裝��
鉛玻璃屏蔽罩�
Si-Pin探測器�
信號(hào)檢測電子電路�
高低壓電��
X光管�
高度傳感�
保護(hù)傳感�
�(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
X射線測厚儀�(yīng)用領(lǐng)�
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測�, 電鍍液和鍍層含量的測��
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀�,首飾銷售和檢測�(jī)�(gòu);電鍍行�(yè)�
維庫電子�,電子知�(shí),一查百��
已收錄詞�160337�(gè)