光纖跳線用來做從�(shè)備到光纖布線鏈路的跳接線。有較厚的保�(hù)�，一般用�光端�(jī)和終端盒之間光纖跳線的連接� 尾纖又叫豬尾�，只有一端有連接�，而另一端是一�光纜纖芯的斷頭，通過熔接與其他光纜纖芯相�，常出現(xiàn)在光纖終端盒�(nèi)，用于連接光纜與光纖收�(fā)器（之間還用到耦合器、跳線等�� 光纖連接�是光纖與光纖之間�(jìn)行可拆卸（活動）連接的器�，它是把光纖的兩個端面精密對接起�，以使發(fā)射光纖輸出的光能量能限度地耦合到接收光纖中�，并使由于其介入光鏈路而對系統(tǒng)造成的影響減到最�，這是光纖連接器的基本要求。在一定程度上，光纖連接器也影響了光傳輸系統(tǒng)的可靠性和各項(xiàng)性能�
1.插入損耗低
2.重復(fù)性好
3.回波損耗大
4.互插性能�
5.溫度�(wěn)定性好
光纖跳線�(yīng)�:
1.光纖通信系統(tǒng)
2.光纖接入�(wǎng)
3.光纖�(shù)�(jù)傳輸
4.光纖CATV
5.局域網(wǎng)(LAN)
6.測試�(shè)�
7.光纖跳線生產(chǎn)加工的必備設(shè)�-光纖研磨�(jī)
"電“可加工各種�(biāo)�(zhǔn)光纖連接器：fc/upc、sc/upc、st/upc、lc/upc�
”話“mu/upc、fc/apc、sc/apc、mt-rj、e2000�
�1� 1 >研磨速度�(shù)字顯示控�，可隨時�(diào)整研磨速度�15�200rpm�
�3� 2>高精度的�(jī)械配�，獨(dú)立的自轉(zhuǎn)和公�(zhuǎn)�(fù)合運(yùn)�，保證研�
�5� 品質(zhì)的均勻性和一致�
�3�3>�(chǎn)品防水性能�(qiáng)�,�(jié)�(gòu)�(shè)�(jì)，保證了�(shè)備使用安�、可�
�7� 4>自動記錄研磨次數(shù)和研磨時間設(shè)�
� 8� 5>以水作研�,人性化的小橋流水設(shè)置提供了良好的前提！
�7� 6>加壓、卸載及更換夾具、研磨片方便快捷
�7� 7>加工�(zhì)量穩(wěn)�，返修率�
�0� 8>生產(chǎn)效率高（可數(shù)臺并列組成生�(chǎn)線）
�2� 9>耗材節(jié)�，研磨成本低 �0�
由于�(yīng)用和用戶對帶寬需求的�(jìn)一步增加和光纖鏈路對滿足高帶寬方面的巨大優(yōu)�，光纖的使用越來越多。無論是布線施工人員，還是網(wǎng)�(luò)維護(hù)人員，都有必要掌握光纖鏈路測試的技��
2004�2月頒布的TIA/ TSB-140測試�(biāo)�(zhǔn)，旨在說明正確的光纖測試步驟。該�(biāo)�(zhǔn)建議了兩級測試，分別為：
Tier 1（一級），使用光纜損耗測試設(shè)備（OLTS）來測試光纜的損耗和長度，并依靠OLTS或者可視故障定位儀（VFL）驗(yàn)證極��
Tier 2（二級），包括一級的測試參數(shù)，還包括對已安裝的光纜鏈路的OTDR追蹤�
根據(jù)TSB-140�(biāo)�(zhǔn)，對于一條光纖鏈路來�，一級測試主要包括兩個參�(shù)：長度和損耗。事�(shí)�，早在標(biāo)�(zhǔn)ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已經(jīng)分別對多模和單模光纖鏈路的損耗測�，定義了三種測試方法（長度的測量，取決于儀表是否支�，如果儀表支�，在測試損耗的同時，長度同時也會測量）。為了方�，我們分別稱為：方法A、方法B和方法C。TSB�140就是在這基�(chǔ)上發(fā)展而來，與此兼��
那么這三種方法各有什么特�(diǎn)，怎么操作，應(yīng)該在什么場合下使用�？這正是本文要闡述的問�。另外，光纖鏈路的測�，不同于雙絞線鏈路的測試，又有什么地方需要注意或者有什么原則可以遵循呢？這也是本文想與讀者分享的�(nèi)��
如何測試光纖鏈路損�
光纖鏈路損耗的測試，包含兩大步驟：一是設(shè)置參考值（此時不接被測鏈路），二是�(shí)際測試（此時接被測鏈路）�
下面我們具體介紹一下標(biāo)�(zhǔn)中定義的三種測試損耗的方法（以雙向測試為例）�
測試方法A
方法A�(shè)置參考值時，采用兩條光纖跳線和一個連接器（考慮一個方�，如下圖上半部分�。設(shè)置參考值后，將被測鏈路接�(jìn)來（如下圖下半部分），�(jìn)行測試�
我們不難發(fā)�(xiàn)，每個方向的測試�(jié)果中包括光纖和一端的連接器的損耗。因�，方法A 是用來測試這種光纜鏈路：光纖鏈路一端有連接器，另一端沒��
測試方法B
方法B�(shè)置參考值時，只使用了一條光纖跳線（考慮一個方�，如下圖上半部分）。設(shè)置參考值后，將被測鏈路接�(jìn)來（如下圖下半部分），�(jìn)行測試�
這種方法的測試結(jié)果中，包括光纖鏈路和兩端連接的損耗。因�，方法B是用來測試這種光纜鏈路：鏈路兩端都有連接�，其連接器的損耗是整個損耗的重要部分。這就是室�(nèi)光纜的常見例��
�(xì)心的讀者不難發(fā)�(xiàn)，從技�(shù)角度�，測試結(jié)果它還包括了額外的光纖跳線（3�4）的損耗，但是其長度較�，損耗可以忽略不�(jì)。對室內(nèi)光纜�(wǎng)�(luò)，這種方法提供了精確的光纜鏈路測試，因?yàn)樗斯饫|本身以及電纜兩端的連接��
測試方法C
方法C�(shè)置參考值時，使用三條光纖和兩個連接器（單方�，見下圖上半部分�，其中兩個連接器之間的光纖為長度小�1M的光纖跳線（通常�30M�，測試時，用被測光纖鏈路將連接器之間的光纖跳線替換（如下圖下半部分）�
因此，方法C的測試結(jié)果，僅包含光纖的損�，不包含兩端連接器的損耗，而短光纖跳線引入的誤差很�，可忽略不計(jì)�
這種方法，由于兩端都不包含連接器的損�，所以更適合于電信運(yùn)營商的光纖鏈路的測試，因?yàn)殡娦诺墓饫w鏈路通常距離比較�，光纖鏈路的損耗主要是光纖本身的損�。而對于室�(nèi)的應(yīng)用，通常鏈路兩端都會連接�，所以不建議采用這種方法。當(dāng)�，對于兩端沒有連接器的光纖鏈路來說，此方法是適用的�
值得一提的是，如果被測鏈路兩端的連接頭不一�，只要在�(shè)置參考值時，選用合適的連接器和相應(yīng)的轉(zhuǎn)接跳線即可�
測試方法的局限性和改�(jìn)
�(biāo)�(zhǔn)中雖然規(guī)定了建議了三種測試方�。但是值得注意的是，這里有一個大前提，即：被測光纖的接頭或連接器和儀表提供的接口必須要一致。除此之�，還有其它一些不盡人意的地方�
以方法B為例，當(dāng)使用方法B �，存在以下幾個不足之處：
�(dāng)參考值設(shè)置完后，�(jìn)行實(shí)際測試時，需要將測試儀一端的連接光纜斷開。千萬要記住的是：千萬不要斷開光源輸出端。輸出端一旦斷�，原來設(shè)置的參考值就失效�，必須重新設(shè)置基�(zhǔn)，否則會�(yán)重影響測試的�(jié)�。不幸的�，人們往往忽視這一�(diǎn)�
即使我們知道要從測試儀測試(輸入)端斷開連接電纜，仍然要非常小心，盡量避免接頭處受到污染或檢測器受到損壞�
為了測試�(fā)送和接收同在一起的雙工SFP連接�，從輸入端斷開的同時，源(輸出)端也不得不斷�，因而違反了條原��
使用方法B�，要求你的測試儀連接器必須和被測光纜的連接器相��
為了克服以上不足，我們介紹一種新的測試方�，它是方法B的改�(jìn)。改�(jìn)�，它不僅提供了同樣的測試�(jié)果而且保證了和測試�(biāo)�(zhǔn)的一致性，同時克服了以�4�(diǎn)不足�
改�(jìn)的測試方法B
方法B的簡單改�(jìn)使得我們能夠保持原來的精度(每次測量都包括光纜以及兩端的接頭，同時又避免了上述的缺陷。改�(jìn)后的方法B，在�(shè)置參考時使用兩條連接光纜和一個連接適配器，與方法A類似，然�，測試時的連接方式與方法A不同�
以測試兩端都是MT-RJ連接器的一對光纖為例（儀表提供的接口為SC�。設(shè)置基�(zhǔn)�，如下圖所示。使用了一個雙工MT-RJ連接器和四根SC——MT-RJ的短跳線�
測試時，斷開連接器的一�，接入被測光�，同時引入了額外的一對短測試跳線（MT-RJ——MT-RJ，通常30cm或更短），如下圖所��
容易看出，這樣測試的結(jié)果和方法B測得的結(jié)果一�，測試結(jié)果包括光纜和兩端連接器的損耗（MT-RJ——MT-RJ短測試跳線的損耗忽略不�(jì)）�
與測試方法B的一致�
改�(jìn)的方法B和原來的方法B相比，有以下幾點(diǎn)好處，并且保持了測試�(jié)果的一致性：
改�(jìn)的方法B所得到的損耗測量結(jié)果和ANSI/TIA/EIA-526-14A中的方法B是一致的。根�(jù)方法B，可以正確地測量鏈路的損�，測試時的鏈路比�(shè)置基�(zhǔn)時的鏈路多出兩個適配器。使用這種方法測量的損耗是鏈路中光纜以及鏈路兩端連接器的損耗之��
改�(jìn)方法B，讓我們可以方便測試不同接口類型的鏈路，而不受儀表本身接口的限制。而且改�(jìn)的方法B，使得不需要在測試儀器接口處斷開光纖，從而減少了由于重復(fù)插拔所�(dǎo)致的污染誤差和對測試儀器的光接口的磨損。解決了測試帶有SFP雙工連接器的光纖鏈路的復(fù)雜問題�
測試方法變�
事實(shí)�，實(shí)際的被測鏈路千差萬別。上面介紹的測試方法，在有些情況�，就沒法�(jìn)行了。比如：要測試一條兩端連接器類型不同的鏈路（如：一端帶LC 連接�，另一端為MT-RJ連接器），就無法�(shí)�(xiàn)�。這時怎么辦呢，其�(shí)只要稍做變通就可以了�
�(xiàn)在以測試一對“一端是LC 連接�，另一端為MT-RJ連接器”的光纖鏈路為例（儀表提供的接口為SC�，加以說��
這種鏈路用以上的方法都無法直接測�。于是我們要將這種鏈路稍加變通，讓它變成可以用上述方法測試的鏈路。最直接的方法就是兩端分別加上短跳線，從而變成方法C適用的鏈�。這里，我們在一端加上LC——SC的跳�，另一端加上MT-RJ——SC的跳�，變通之�，問題就變成測試一對SC——SC的鏈路，顯然可以用方法C來測��
于是，設(shè)置參考值時，其連接方式如下圖上半部�，這是典型的方法C�(shè)置基�(zhǔn)的方�。而測試時，只要將變通后的鏈路當(dāng)成一個整�，按照方法C的步驟將被測鏈路接入�(jìn)來即��
注意到，測試�(jié)果中，除了原來的被測鏈路之外，還包括了兩端增加的短跳線的損�，由于短跳線的損耗很�，可以忽略不�(jì)�
其實(shí)，通過這種變通的方法，我們可以解決絕大多�(shù)光纖鏈路，是一種非常實(shí)用的方法。思路都是一樣的，那就是通過增加短跳線來�(zhuǎn)化成方法C的測試問��
�(xì)心的讀者難免會問，為什么要兩端都加跳線呢，只在一端加跳線行不�?；卮鹗强隙�?。比�，我們可以LC連接器一�，增加LC——MT-RJ跳線，因而就變成測試這樣一條鏈路：一端是MT-RJ連接器，另一端是MT-RJ接頭。顯然我們可以用方法A來測�。測試結(jié)果和原來的鏈路有一根短跳線的誤差，可以忽略不計(jì)�
歸納起來，不論對于什么類型的鏈路，我們都可以通過增加跳線的方�，將其轉(zhuǎn)化成方法A或方法C來�(jìn)行測試。至于增加什么樣的跳�，有一個原則要注意，那就是：增加短跳線�，兩端的接頭或連接器要一�，而且盡可能在一端加跳線，而不是兩端都��
另外，要特別提醒的是，只能增加跳�，而不能增加連接器來�(zhuǎn)化問題，�?yàn)檫B接器引入的損耗太�，不能忽略不�(jì)�
測試方法的選�
光纖鏈路的測試方法我們介紹了好幾�，步驟都是一樣的，即先設(shè)置參考�，再測試。不同的方法，要選擇合適的連接方式�(shè)置參考�，并且確保設(shè)置參考值后，能方便地將被測鏈路加�(jìn)來，測試出準(zhǔn)確的損�。為了便于選擇，本人編制了下�，供參��
總而言之，�(dāng)我們要測試一條光纖鏈路時，要考慮的三個因素是�
兩端連接器的個數(shù)
連接類型是否相同
連接類型是否與儀表的接口匹配�
根據(jù)這個三個因�，參照上�，即可選擇合適的測試方法�
注意事項(xiàng)
相對于雙絞線的測試，光纖鏈路的測試更為復(fù)雜一�。除了要熟悉上述的測試方法外，還要注意以下事�(xiàng)�
首先，對于不同的光纖鏈路，單?；蚨嗄＃鄳?yīng)�，要選用�?；蚨嗄x表。測試時，所選擇的光源和波長，要與實(shí)際使用中的光源和波長一�，否則測試結(jié)果就會失去參考價(jià)值�
�(shè)置好參考值后，千萬注意不要在儀表光源的輸出口斷�，一旦斷�，要求重要設(shè)置基�(zhǔn)，否則測試結(jié)果可能不�(zhǔn)�，甚至出�(xiàn)�(fù)值�
光源需要預(yù)熱十分鐘左右才能�(wěn)�，設(shè)置參考值要在光源穩(wěn)定后才能�(jìn)�。如果環(huán)境變化較�，如：從室內(nèi)到室�，溫度變化大，要重要�(shè)置參考��
光纖端接面要保持清潔，尤其是與儀表接口連接�，先清潔一�。有條件的用�，可以配備光纖端接面檢測儀和清潔工�，確保端接面的清��
光纖跳線按傳輸媒介的不同可分為常見的硅基光纖的單模、多模跳�，還有其它如以塑膠等為傳輸媒介的光纖跳線；按連接頭結(jié)�(gòu)形式可分為：FC跳線、SC跳線、ST跳線、LC跳線、MTRJ跳線、MPO跳線、MU跳線、SMA跳線、FDDI跳線、E2000跳線、DIN4跳線、D4跳線等等各種形式�
比較常見的光纖跳線也可以分為FC-FC、FC-SC、FC-LC、FC-ST、SC-SC、SC-ST��
單模光纖(Single-mode Fiber)：一般光纖跳線用黃色表示，接頭和保護(hù)套為�(lán)�；傳輸距離較長�
多模光纖(Multi-mode Fiber)：一般光纖跳線用橙色表示，也有的用灰色表示，接頭和保�(hù)套用米色或者黑�；傳輸距離較��
維庫電子�，電子知識，一查百��
已收錄詞�153979�
