�(wú)�(jī)�(zhì)譜儀是主要用以�(jìn)行無(wú)�(jī)物分析的�(zhì)譜儀,與有機(jī)�(zhì)譜儀工作原理不同的是物質(zhì)離子化的方式不一�,無(wú)�(jī)�(zhì)譜儀是以電感耦合高頻放電 (ICP)或其他的方式使被�(cè)物質(zhì)離子��
�(wú)�(jī)�(zhì)譜儀主要用于�(wú)�(jī)元素微量分析和同位素分析等方�。分為火花源�(zhì)譜儀、離子探針質(zhì)譜儀、激光探針質(zhì)譜儀、輝光放電質(zhì)譜儀、電感耦合等離子體�(zhì)譜儀?;鸹ㄔ促|(zhì)譜儀不僅可以�(jìn)行固體樣品的整體分析,而且可以�(jìn)行表面和逐層分析甚至液體分析;激光探針質(zhì)譜儀可�(jìn)行表面和縱深分析;輝光放電質(zhì)譜儀分辨率高,可�(jìn)行高靈敏�,高精度分析,適用范圍包括元素周期表中絕大多�(shù)元素,分析速度�,便于�(jìn)行固體分�;電感耦合等離子體�(zhì)�,譜線簡(jiǎn)單易�(rèn),靈敏度與測(cè)量精度很��
(1)分辨率(resolution�
兩�(gè)相鄰的質(zhì)譜峰之一的質(zhì)量數(shù)與兩者質(zhì)量數(shù)之差的比�,規(guī)定為儀器的分辨�,用R表示。設(shè)兩�(gè)相鄰峰的�(zhì)量數(shù)分別為M1和M2,兩峰質(zhì)量數(shù)之差為ΔM,則分辨�
R=M2(或1�/M2-M1=M/ΔM �1�
如M1=500,M2=501,兩峰剛好完全分�(kāi),則R=500/501-500=500
如M1=500.0,M2=500.1,則R=500.0/500.1-500.0=5,000
如M1=500.00,M2=500.01,則R=500.01-500.00=50,000
這就是說(shuō),儀器的分辨率為500�(shí),只能分開(kāi)在整�(shù)位有差別的相鄰兩�;分辨率為5,000�(shí),則能分開(kāi)相差0.1�(gè)原子�(zhì)量單位的相鄰兩峰;分辨率為50,000�(shí),�(zhì)量精度可�(dá)�0.01。顯然,�(dāng)用分辨率�50�000的儀器測(cè)定質(zhì)量數(shù)�200附近的兩�(gè)峰時(shí),質(zhì)量數(shù)的精確度就更高些。這可代入式(1)計(jì)算出�(lái)�50�000=200/ΔM,ΔM=200/50�000=0.004,即可�200.00�200.004的兩�(gè)峰剛好完全分�(kāi),但是,�(dāng)用同樣分辨率的儀器測(cè)定質(zhì)量數(shù)�1,000附近的兩�(gè)�,�(zhì)量精確度則降為ΔM=1,000/50,000=0.02,雖然也是�(zhǔn)確到小數(shù)第二�,但是只能精確�0.02原子�(zhì)量單�(amu)�
雙聚焦磁�(zhì)譜儀的分辨率�10�000-100�000�
傅立葉變換離子回旋共振質(zhì)譜儀的分辨率可達(dá)1000�000�
�2)靈敏度(sensitivity�
靈敏度指儀器可檢測(cè)的最小樣品量(必要時(shí)注明相應(yīng)的信噪比�;相�(duì)靈敏度指儀器可同時(shí)�(cè)定的大組分與小組分的含量,常�1×10-6表示�
型的基質(zhì)輔助激光解吸附飛行�(shí)間質(zhì)譜儀的靈敏度可達(dá)10-15-10-18�
�3)準(zhǔn)確度(accuracy�
指質(zhì)譜分析的�(cè)定值(�(zhì)量、同位素比值或化學(xué)組分)與理論值的偏差�
型的四極桿飛行時(shí)間質(zhì)譜儀的質(zhì)量準(zhǔn)確度可達(dá)5ppm.
傅立葉變換離子回旋共振質(zhì)譜儀的質(zhì)量準(zhǔn)確度可達(dá)1ppm.
�4)質(zhì)量范�
�(zhì)譜儀所能測(cè)定的原子量(分子量)范圍,單位為Da.
型的基質(zhì)輔助激光解吸附飛行�(shí)間質(zhì)譜儀的質(zhì)量范圍可�(dá)400�000Da.
�5)分子離�
有機(jī)化合物分子受到外�(lái)電子撞擊�,絕大多�(shù)是失去一�(gè)電子,這就使分子帶有一�(gè)正電�,這種帶正電荷的粒子就叫作分子離子�
分子離子用來(lái)�(cè)定化合物的分子量�
�6)碎片離�
�(dāng)撞擊電子能量較高、超�(guò)分子本身電離所需能量�(shí),分子離子的一部分、大部分或全部就要發(fā)生裂�,生成的分子碎片也可以帶正電�,這就是碎片離��
碎片離子用來(lái)�(cè)定化合物的結(jié)�(gòu)�
�(wú)�(jī)�(zhì)譜儀廣泛用于地質(zhì)�(xué)、礦物學(xué)、地球化�(xué)、核工業(yè)、材料科�(xué)、環(huán)境科�(xué)、醫(yī)�(xué)�(wèi)�、食品化�(xué)、石油化工等�(lǐng)域以及空間技�(shù)和公安工作等特種分析方面�