�(cè)試針,用于測(cè)試PCBA的一種探��
表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3�(wàn)~10�(wàn)次的高性能彈簧�
探針根據(jù)電子�(cè)試用途可分為�
A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)�、短路檢�(cè)探針,國(guó)�(nèi)大部分的探針�(chǎn)品均可替代�(jìn)口產(chǎn)品;
B、在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;高端產(chǎn)品的核心技�(shù)還是掌握在國(guó)外公司手�,國(guó)�(nèi)部分探針�(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代�(jìn)口探針產(chǎn)��
C、微電子�(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,核心技�(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,�(guó)�(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生�(chǎn)�
探針根據(jù)主要類型可以分為:懸臂探針和垂直探針�
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和�(huán)氧樹(shù)脂型(Epoxy Type�
垂直探針:垂直型(Vertical Type�
電子探針有三種基本工作方式:�(diǎn)分析用于選定�(diǎn)的全譜定性分析或定量分析,以及對(duì)其中所含元素�(jìn)行定量分析;線分析用于顯示元素沿選定直線方向上的濃度變化;面分析用于觀察元素在選定微區(qū)�(nèi)濃度分布�
由莫塞萊定律可知,各種元素的特征X射線都具有各自確定的波長(zhǎng),通過(guò)探測(cè)這些不同波長(zhǎng)的X射線�(lái)確定樣品中所含有的元素,這就是電子探針定性分析的依據(jù)。而將被測(cè)樣品與標(biāo)�(zhǔn)樣品中元素Y的衍射強(qiáng)度�(jìn)行對(duì)�,就能�(jìn)行電子探針的定量分析。當(dāng)然利用電子束激�(fā)的X射線�(jìn)行元素分析,其前提是入射電子束的能量必須大于某元素原子的�(nèi)層電子臨界電離激�(fā)��
電子探針可以�(duì)試樣中微小區(qū)域(微米�(jí))的化學(xué)組成�(jìn)行定性或定量分析??梢赃M(jìn)行點(diǎn)、線掃描(得到層成分分布信息�、面掃描分析(得到成分面分布圖像�。還能全自動(dòng)�(jìn)行批量(�(yù)�9999�(cè)試點(diǎn))定量分析。由于電子探針技�(shù)具有操作迅速簡(jiǎn)便(相對(duì)�(fù)雜的化學(xué)分析方法而言�、實(shí)�(yàn)�(jié)果的解釋直截了當(dāng)、分析過(guò)程不損壞樣品、測(cè)量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)�(diǎn),故在冶�、地�(zhì)、電子材料、生�、醫(yī)�(xué)、考古以及其它�(lǐng)域中得到日益廣泛地應(yīng)�,是礦物�(cè)試分析和樣品成分分析的重要工具�
電子探針又稱微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面,使被轟擊的元素激�(fā)出特征X射線,按其波�(zhǎng)及強(qiáng)度對(duì)固體表面微區(qū)�(jìn)行定性及定量化學(xué)分析。主要用�(lái)分析固體物質(zhì)表面的細(xì)小顆粒或微小區(qū)�,最小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3(�)�92(�)。感量可�(dá)10-14�10-15g。近年形成了掃描電鏡—顯微分析儀的聯(lián)合裝�,可在觀察微區(qū)形貌的同�(shí)逐點(diǎn)分析試樣的化�(xué)成分及結(jié)�(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材�、水泥熟料研究等部門�
維庫(kù)電子�,電子知�(shí),一查百��
已收錄詞�153979�(gè)