RoHS�Restriction of Hazardous Substances的縮�，中文名稱是�關于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指��，它是由歐盟立法制定的一項強制性標��ROHS檢測儀也可以稱為�X射線熒光光譜儀��它利�X射線熒光光譜儀的分析原理�是檢�電機電子產品中的�、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴�(lián)苯醚�物質的儀��
ROHS檢測儀，即X射線熒光光譜儀�?？煞譃閮纱箢?波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激�(fā)�、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激�(fā)源和探測器和相關電子與控制部�，相對簡��
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷�，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量�
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；k為不同類型能量探測器的響應參�(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信��
待測元素的特征譜線需要采用一定的激�(fā)源才能獲得。目前常�(guī)采用的激�(fā)源主要有射線光管和同位素激�(fā)源等�
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀�，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)�(jù)處理�
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜�，根�(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射�；n為衍射級�。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息�
根據(jù)歐盟WEEE&RoHS指令要求，AOV是將產品根據(jù)材質進行拆分，以不同的材質分別進行有害物質的檢�。一般來說：
塑膠材質除了檢查這四種有害重金屬元素外還需檢測溴化阻燃劑（多溴�(lián)苯PBB/多溴�(lián)笨醚PBDE�
金屬材質需測試四種有害金屬元素如（Cd�/Pb�/Hg�/Cr6+六價鉻）
同時對不同材質的包裝材料也需要分別進行包裝材料重金屬的測試�94/62/EEC�
以下是RoHS中對六種有害物規(guī)定的上限濃度�
銅合金中小于40000ppm
汞：小于1000ppm
鎘：小于100ppm
鉛：小于1000ppm
鋼合金中小于3500ppm
六價鉻：小于1000ppm
鋁合金中小于4000ppm
1、陽離子及其價態(tài)�
采用英藍陽離子色譜法、離子選擇電極法、原子吸收法均可檢測 確定陽離子元素價�(tài)可采用伏安極譜法進行分析
2、陰離子�
英藍技術離子色譜法，采用氧彈燃�、英藍技術前處理之后，直接進入離子色譜進行分析
維庫電子通，電子知識，一查百��
已收錄詞�160609�
